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當(dāng)前位置：日立分析儀器（上海）有限公司>>涂鍍層測厚儀>>X射線熒光鍍層測厚儀>> FT160XRF鍍層測厚儀
FT160 XRF鍍層測厚儀旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。
FT160 XRF鍍層分析儀的多毛細(xì)管光學(xué)元件可以測量小于 50 µm 的特征上的納米級鍍層，先進(jìn)的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機(jī)發(fā)生前提醒您。
產(chǎn)品亮點
FT160 的光學(xué)和檢測器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，針對最小的特征進(jìn)行了優(yōu)化。
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用于從安全距離查看分析的大觀察窗
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測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標(biāo)準(zhǔn)
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IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
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用于快速樣品設(shè)置的自動特征定位
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為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇
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在小于 50 µm 的特征上測量納米級鍍層
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將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍
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可容納各種形狀的大型樣品
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專為長期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計
| FT160 | FT160L | FT160S | |
| 元素范圍 | Al – U | Al – U | Al – U |
| 探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管陽極 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
| 光圈 | 多毛細(xì)管聚焦 | 多毛細(xì)管聚焦 | 多毛細(xì)管聚焦 |
| 孔徑大小 | 30 µm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強(qiáng)度（W tube） | 30 µm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強(qiáng)度（W tube） | 30 µm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強(qiáng)度（W tube） |
| XY軸樣品臺行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
| 最大樣品尺寸 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
| 樣品聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 |
| 測試點識別 | ? | ? | ? |
| 軟件 | XRF Controller | XRF Controller | XRF Controller |
